掃描電子顯微鏡(SEM)

    功能:結(jié)構分析
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    儀器型號:FEI Quanta 250 FEG
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    發(fā)布人:管理員
    詳情 details

    1、主要用于直接觀察導電、不導電樣品的表面形貌及成分分析。

    2、具有可觀察含水樣品的功能,并能在低真空以及更低真空度的條件下能觀察二次電子像,以滿足研究近似原始狀態(tài)下相關樣品的需求。

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