材料測試平臺(tái)

    功能:結(jié)構(gòu)分析
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    儀器型號(hào):5500 AFM(SPM)
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    發(fā)布人:管理員
    詳情 details

    儀器掃描精度,X、Y軸為0.2 nm,Z軸為0.2 nm,掃描范圍最大為100 μm*100 μm,Z軸最大測量高度為8 μm。


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